科技應用 斷層掃描 COMPUTEX 2025 ZEISS METROTOM CT 斷層掃瞄系統 蔡司將於 Computex 2025 展示無損檢測方案 無損檢測 AI 伺服器組裝品質 蔡司宣布將在 Computex 2025 展出無損檢測技術,協助精準檢查 AI 伺服器組裝品質,提升製造水準。 去年宣布在台灣竹科成立創新中心,並且承諾在未來10年內於台灣市場投資超過新台幣100億元之後,蔡司 (ZEISS)宣布將參與今年度的Computex 2025,預計展示針對人工智慧伺服器提供非破壞性的無損檢測解決方案ZEISS METROTOM CT斷層掃瞄系統,同時也將公布新一波針對台灣市場的投資計畫。 同時,蔡司更說明與台灣半導體研究中心、清華大學、陽明交通大學、成功大學等學研單位合作,提供電子顯微鏡系統ZEISS Crossbeam FIB-SEM System,藉此推動台灣半 Mash Yang 17 個小時前